X光测试时一个实时的非破坏性测试用于检查芯片内部硬件结构。主要测试芯片内部框架结构，晶圆尺寸，金线绑扎图等。客户可以提供样品用于做对比测试。 
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X光测试时一个实时的非破坏性测试用于检查芯片内部硬件结构。主要测试芯片内部框架结构，晶圆尺寸，金线绑扎图等。客户可以提供样品用于做对比测试。
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